本文標(biāo)題："測量巖石中礦物顆粒的空間排列圖像顯微鏡"

測量巖石中礦物顆粒的空間排列圖像顯微鏡

用此方法磨制的包裹體薄片，價值便宜，操作簡便，薄片質(zhì)

量完全可以滿足研究的要求。

巖(形)組分析定向薄片的磨制

巖(形)組分析是利用費氏旋轉(zhuǎn)臺等研究巖石中的定向結(jié)構(gòu)

或礦物定向排列的規(guī)律和成因的科學(xué)。通過比較精密的統(tǒng)計，測

量巖石中某些礦物顆粒的空間排列方位，借以了解巖石的形成環(huán)

境及其在應(yīng)力一應(yīng)變過程中變化的條件，從而解決一系列有關(guān)巖

石成因及地質(zhì)構(gòu)造的生成和發(fā)展方向的問題。巖石中這種定向結(jié)

構(gòu)，包括顆粒形態(tài)、方位，是在動力環(huán)境下，礦物顆粒作為一個

整體而改變自己的空間位置所形成，以及顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)方位—

結(jié)晶格子方位，它是礦物內(nèi)部的結(jié)晶格架有規(guī)律的定向排列。巖

(形)組分析的測量統(tǒng)計對象是巖石中含有大量石英、云母或方解

石的花崗巖類，結(jié)晶片巖、大理巖化灰?guī)r、大部分片麻巖、某些

脈巖，以及沉積碎屑巖等。

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測量巖石中礦物顆粒的空間排列圖像顯微鏡,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)