本文標(biāo)題："微分干涉差顯微鏡的技術(shù)了解專業(yè)的平面檢測(cè)儀器"

發(fā)布者：MISS-GU ------ 分類: 技術(shù)文章 ------ 人瀏覽過(guò) -----時(shí)間：2016-4-4 9:33:22

微分干涉差顯微鏡的技術(shù)了解專業(yè)的平面檢測(cè)儀器

   微分干涉差顯微鏡還可以用字母來(lái)代替，稱為DIC
顯微鏡，其使用的光源主要是平面偏振的狀態(tài)，

   光源使用中，其光線需要經(jīng)過(guò)棱鏡，之后就會(huì)產(chǎn)生
折射的現(xiàn)象，從而光就會(huì)被分成兩束，經(jīng)過(guò)相鄰試樣
的時(shí)候不是在同一個(gè)時(shí)間進(jìn)行的，其光線的會(huì)合
需要經(jīng)過(guò)另一個(gè)棱鏡，
  
   這種DIC顯微鏡的設(shè)計(jì)有個(gè)很好的優(yōu)點(diǎn)，那就是其
觀測(cè)的結(jié)構(gòu)都是立體的感覺(jué)，呈現(xiàn)出來(lái)的影像也是三
維立體的效果，

   微分干涉差顯微鏡的使用是不同于相差顯微鏡的，
相比相差，DIC所觀測(cè)的試樣是可以厚一些的，

   還有一個(gè)大的優(yōu)點(diǎn)，那么就是其使用的折射率之
間的差別是很到的，這樣，我們看到的物象才會(huì)
顯得更加的具有立體感。

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